Thermoreflectance

热反射率是一种测定热反射率的方法热扩散率热导率薄膜的厚度在纳米范围内。与传统的相比激光闪光法,没有红外探测器用于测量短激光脉冲后样品的温度上升。相反,表面依赖于温度的反射率被用来产生测量信号(电压变化)。

用短激光脉冲(泵浦激光)加热薄膜。与此同时,一个额外的激光器(探针激光器)被持续打开。探针激光器的激光被薄膜表面反射到探测器上。探测器内电压变化的绝对值与薄膜表面的温度变化成正比。基于电压变化(热图)的模型计算得出热扩散时间和热扩散率薄膜。

热扩散时间(t)取决于厚度(d)和热扩散率(a).可能的热扩散时间范围见图1。例如,LFA 467的下限为~500µs,相当于厚度为200µm的铜板。与此相反,PicoTR(皮秒热反射率仪)可以测量厚度为100µm的钼膜。适用于范围在LFAPicoTR,性价比越高NanoTR(纳秒热反射率仪)是可用的。


相关的方法

LFA

NETZSCH Thermoreflectance系统

NanoTR/PicoTR-时域热反射率

NETZSCH公司提供的创新时域热反射率仪器可以提供最先进的热物理特性测试,范围可达纳米级。